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摘 要:一种在透射电子显微镜下快速精确测量小角晶界取向差的方法,其步骤为:采用透射电子显微镜双倾杆倾转样品,使得坐标系Ⅰ中晶粒Ⅰ的晶带轴处在正带轴位置,并采集晶粒Ⅰ此时的会聚束电子衍射花样;保持透射电子显微镜的相机常数L和会聚束衍射条件的参数不变,采集坐标系Ⅱ中晶粒Ⅱ的会聚束电子衍射花样;使用软件叠加所采集晶粒Ⅰ的菊池花样和晶粒Ⅱ的菊池花样;测量晶粒Ⅰ的菊池极与晶粒Ⅱ的菊池极的距离s,以及晶粒Ⅱ的菊池极相对晶粒Ⅰ的菊池极垂直于图面的转角γ;计算θ角,根据菊池线的几何特性,θ=arctan(s/L)=s/L;采用公式(6)cosΘ=(cosγ+cosγcosθ+cosθ‑1)/2计算晶粒Ⅰ与晶粒Ⅱ的取向差。本发明不需要加装硬件和软件,可使用普通透射电子显微镜测量取向差。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201710146128.2 | 专利名称: | 在透射电子显微镜下快速精确测量小角晶界取向差的方法 |
申请日: | 2017-03-13 | 申请/专利权人 | 燕山大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 河北省秦皇岛市海港区河北大街西段438号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N23/20搜分类 电子 微 微生物采样 电子显微镜搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2019/02/22 | 授权 | |
2017/06/30 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01N 23/20 专利申请号: 201710146128.2 申请日: 2017.03.13 |
2017/06/06 | 公开 |