实用新型 已授权

一种半导体厚度检测装置

📄 申请号:CN202520876310.3 📄 发布日:2026/10/28

著录项目信息

申请日
2025-05-06
公开号
CN224034632U
公开日
2026-03-24
申请人
陕西未来芯科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

半导体制造, 晶圆检测, 半导体封装, 质量控制, 工业检测

摘要

本实用新型公开了一种半导体厚度检测装置,属于厚度检测装置技术领域,包括安装架,所述安装架的顶部开设有固定槽,固定槽的内侧设置有平移机构,安装架的底部固定连接有底座,平移机构的顶部设置有滑台,滑台的顶部设置有旋转机构,安装架外侧设置有连接机构,连接机构侧面远离安装架的一侧设置有检测仪主体,本实用新型设置有旋转机构,一电机驱动转盘绕着支撑架转动,支撑架让转盘保持稳定,电动推杆推动推板和防滑垫夹紧半导体,检测仪主体对某个半导体测量完成后,转盘转动,自动将下个待检测物品放置到检测仪下方,通过电动推杆对半导体进行夹持,再配以转盘自动进行换料,可以夹持任意大小的半导体并且一次测量多个,大大提高了效率。

常见问题

这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN224034632U

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该专利的转让价格是多少?

当前标价为议价,可委托平台代购或预约谈判。

权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:10 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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