发明专利 已授权

一种基于频谱技术和断言切换技术的缺陷定位方法

📄 申请号:CN202111480144.8 📄 发布日:2026/09/11

著录项目信息

申请日
2021-12-06
公开号
CN114153735B
公开日
2025-04-29
申请人
杭州电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

软件测试, 软件开发, 程序调试, 软件质量保障, 自动化测试

摘要

本发明涉及一种基于频谱技术和断言切换技术的缺陷定位方法。本发明主要考虑如何获得更准确的切片以及如何将切片与可疑列表相结合,首先对程序的失败测试使用断言切换技术找出所有的关键断言;然后对该失败测试进行切片,获取到切片;接着,采用频谱技术对程序分析,即执行程序的所有测试用例收集到频谱信息,利用频谱信息计算出所有可疑元素以及对应的怀疑度分数;最后基于所获得的切片以及怀疑度分数重新计算出新的可疑列表对缺陷进行定位。本发明增强了切片和频谱组合技术对于一些遗漏型缺陷的定位,并进一步提高了切片与频谱技术结合后的定位准确率和效率。

常见问题

这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN114153735B

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
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📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:8 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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