发明专利已授权

可识别纹理方向的粗糙度测量装置

📄 申请号：CN201911047074.X 📄 发布日：2026/08/27

著录项目信息

申请日

2019-10-30

公开号

CN111307075B

公开日

2022-03-25

申请人

桂林电子科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_30

IPC 分类号

G01B11_30

技术画像

所属领域

表面粗糙度测量表面粗糙度测量纹理方向识别精密测量仪器

应用场景

机械加工质量检测, 表面工程, 工业自动化, 精密制造, 质量控制

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摘要

本发明提供的是一种可识别纹理方向的粗糙度测量装置，属于光学传感领域，具体涉及的是光学元件表面检测、精密加工等领域。可识别纹理方向的粗糙度测量装置是由激光器1、普通单模光纤2、1*N耦合器3(N为偶数)、光纤环形器4‑1至4‑N、扇入扇出器件5、多芯光纤6、聚焦物镜7、电荷耦合器件(CCD)8、计算机9、光功率计10‑1至10‑N组成。本发明可用于在线测量对表面粗糙度要求较高的待测平面，同时识别出该待测平面局部的纹理方向。一方面实现了入射光路以及收集光路的集成，简化了光路；另一方面所采用的多芯光纤末端进行了处理，具有一定锥角，使得入射光在经过光纤输出后形成微小的聚焦光斑，提高了装置的空间分辨率。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

基于环形芯光纤的高精度粗糙度测量装置

当前第 / 件

一种基于同轴双波导光纤的细胞分选微流芯片

同领域国内专利 · IPC: (G01B11_30)

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