发明专利已授权

一种用于粒子探测应用的SiPM测试与标定方法、系统

📄 申请号：CN202610423394.4 📄 发布日：2026/08/11

著录项目信息

申请日

2026-04-01

公开号

CN121978738A

公开日

2026-05-05

申请人

龙岩学院

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01T1_24

IPC 分类号

G01T1_24 , G01T7_00 ,

技术画像

所属领域

粒子探测硅光电倍增管探测器标定光电探测技术粒子探测

应用场景

粒子物理实验, 核医学成像, 辐射环境监测, 高能粒子探测, 安检设备

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摘要

本发明涉及粒子探测技术领域，具体为一种用于粒子探测应用的SiPM测试与标定方法、系统，包括以下步骤，提取斜率二次差分集合确定电流变化拐点，以计算局部斜率变化比例集合获取击穿转折电压点，分析输出脉冲触发概率，结合光子数提取概率增长区间，构建细化脉冲提取探测效率基准比值，筛选高密度触发数据，计算空间偏差极值，从而调整系统偏置补偿电压。本发明中，通过定位击穿转折电压点，从而避免基础背景噪声造成的测量干扰，统计衰减数量建立触发概率序列，并结合预设最大似然估计模型提取探测效率基准比值，计算通道偏差极值直接修正参数波动，建立阵列全局动态平衡，以维持整体探测工作状态的长期稳定。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种塑料闪烁体反符合探测方法、系统

当前第 / 件

一种基于人工智能的新材料性能预测方法及系统

同领域国内专利 · IPC: (G01T1_24)

G01T1_02 G01T1_16 G01T1_169 G01T1_20 G01T1_203 G01T1_24 G01T1_29 G01T1_36 G01T1_38 覆盖9个领域

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📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：19 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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