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本发明涉及粒子探测技术领域，具体为一种用于粒子探测应用的SiPM测试与标定方法、系统，包括以下步骤，提取斜率二次差分集合确定电流变化拐点，以计算局部斜率变化比例集合获取击穿转折电压点，分析输出脉冲触发概率，结合光子数提取概率增长区间，构建细化脉冲提取探测效率基准比值，筛选高密度触发数据，计算空间偏差极值，从而调整系统偏置补偿电压。本发明中，通过定位击穿转折电压点，从而避免基础背景噪声造成的测量干扰，统计衰减数量建立触发概率序列，并结合预设最大似然估计模型提取探测效率基准比值，计算通道偏差极值直接修正参数波动，建立阵列全局动态平衡，以维持整体探测工作状态的长期稳定。

本实用新型公开了具有警示结构的探测仪器，包括探测仪器主体和凹槽块，所述探测仪器主体的顶面固定连接有警示机构，且警示机构包括蓄电池、半导体辐射探测器主体和警报器，所述蓄电池的右侧通过电源线电性连接有半导体辐射探测器主体，所述半导体辐射探测器主体的右侧通过电源线电性连接有警报器，所述凹槽块固定连接于探测仪器主体的顶面四周，四个所述凹槽块的顶面卡接有防护机构，且防护机构包括插块和防护壳，四个所述插块的顶部固定连接有一组防护壳。该具有警示结构的探测仪器，及时提醒工作人员周围的核辐射超标，具有一定的安全性，也方便安装固定探测仪器主体的同时，也便于探测仪器主体对不同的位置进行检测。