摘要
本发明提供了一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法和装置,所述装置包括:关键信号存储单元,用于存储关键信号和关键信号对应的路径信息;仿真电路单元,用于接收测试激励信息进行仿真测试;关键信号监控单元,用于在仿真测试时,根据所述关键信号对应的路径信息监控所述关键信号,并在所述关键信号的变化值发生变化时,记录当前时间戳信息;电磁辐射计算单元,用于计算待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射仿真数据;电磁辐射分析单元,用于分析同一关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息是否存在相关性,若是则导出相关数据。通过上述方案,在芯片设计阶段,就可以模拟芯片的安全仿真测试,且能够自动完成电磁辐射攻击分析。