发明专利已授权

一种适用于位移传感器测量大型圆形物时的横向对光装置

Name: 一种适用于位移传感器测量大型圆形物时的横向对光装置
Brand: 浙江工业大学
SKU: 2020104891119
Availability: InStock

📄 申请号：CN202010489111.9 📄 发布日：2026/08/04

著录项目信息

申请日

2020-06-02

公开号

CN111721208B

公开日

2025-04-11

申请人

浙江工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_02

IPC 分类号

G01B11_02

技术画像

所属领域

位移传感器位移传感器光学对光精密测量

应用场景

大型圆形工件测量, 位移传感器安装校准, 工业自动化检测, 质量控制

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摘要

一种适用于位移传感器测量大型圆形物时的横向对光装置，包括固定平台、移动平台和位移测量传感器，固定平台和移动平台上分别安装位移测量传感器，所述装置还包括准直光源和光学差分探测系统，固定平台上设置所述准直光源，移动平台上设置所述光学差分探测系统，所学差分探测系统包括聚焦透镜、分光镜、第一挡光板、第二挡光板、第一探测器和第二探测器，准直光源、聚焦透镜、分光镜、第一探测器和第二探测器依次连接形成光路，分光镜的折射方向与第一探测器之间设有第一挡光板，分光镜的反射方向与第二探测器之间设有第二挡光板。本发明提供了一种测量精度较高的适用于位移传感器测量大型圆形物时的横向对光装置。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN111721208B

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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