发明专利已授权

一种表征铌酸锂晶体微观结构变化的方法

📄 申请号：CN201811263993.6 📄 发布日：2026/08/04

著录项目信息

申请日

2018-10-26

申请人

浙江工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N23_227

IPC 分类号

G01N23_227 , G01N23_04 , G01N23_20058 ,

技术画像

所属领域

材料表征与分析材料表征与分析晶体材料与工程

应用场景

材料科学研究, 晶体质量检测, 光电子器件, 晶体生长工艺优化

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摘要

本发明公开了一种表征铌酸锂晶体微观结构变化的方法，包括：(1)采用X射线衍射和/或透射电子显微镜对铌酸锂晶体的空白样品和磨削样品进行测试，得到相应样品的晶体结构；(2)对铌酸锂晶体的空白样品和磨削样品进行X射线光电子能谱测试，根据测试结果分别计算各样品的铌酸锂晶体中；(3)根据所述的Li/Nb，建立相应铌酸锂晶体的模型并进行分子动力学模拟，得到相应铌酸锂晶体的均方差位移；(4)结合所述的晶体结构和相应铌酸锂晶体的均方差位移来表征铌酸锂晶体微观结构的变化。本发明的表征方法采用实验与模拟相结合的方式来表征磨削加工前后铌酸锂晶体微观结构的变化，提高了表征结果的可靠性。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20210323

✅ 授权

20190507

?? 实质审查的生效：

20190412

📄 公开

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