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一种测定纳米-微米带电荷颗粒比表面积的方法

Name: 一种测定纳米-微米带电荷颗粒比表面积的方法
Brand: 重庆为讯科学仪器有限责任公司
SKU: 201410828450X
Availability: InStock

📄 申请号：CN201410828450.X 📄 发布日：2026/08/04

著录项目信息

申请日

2014-12-26

公开号

CN104406898B

公开日

2017-03-15

申请人

重庆为讯科学仪器有限责任公司

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N15_08

IPC 分类号

G01N15_08

技术画像

所属领域

颗粒表征颗粒表征比表面积测定纳米材料测试技术

应用场景

纳米材料研发, 粉体材料分析, 催化剂表征, 材料质量检测

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摘要

本发明提供了一种测定纳米-微米带电荷颗粒比表面积的方法，本发明首次实现了在液相条件下比表面积的测定，在颗粒表面的离子交换达到平衡时，只需测定平衡溶液中离子的浓度，就可直接计算颗粒的比表面积。该方法操作简单、测定结果准确，克服了现行比表面积测定技术中操作时间长、误差大等缺点。

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

多功能水果分级浸泡保鲜箱

当前第 / 件

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