发明专利已授权

基于激光位移传感器的轴径测量装置及其测量方法

📄 申请号：CN201510687714.9 📄 发布日：2026/07/24

著录项目信息

申请日

2015-10-21

公开号

CN105180819B

公开日

2018-01-12

申请人

天津大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_08

IPC 分类号

G01B11_08

技术画像

所属领域

测量装置激光位移传感器精密测量工业自动化检测测量装置

应用场景

机械加工, 轴类零件检测, 工业质量控制, 在线测量, 自动化产线

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摘要

本发明公开了一种基于激光位移传感器的轴径测量装置，包括基座、装卡装置和计算机，基座上安装有X向一维导轨和XY二维平移台；基座上固定有第一测量架，第一测量架上安装有第一激光位移传感器；导轨上装配有第二测量架，第二测量架上安装有第二激光位移传感器；第一、二激光位移传感器的射线同轴共线；装卡装置包括轴承座、旋转臂和锁紧套，被测轴可锁紧在旋转臂上，旋转臂与轴承座铰接，可绕X轴在yOZ平面内旋转；第一、二激光位移传感器与计算机通讯连接。其测量方法是：利用对径的双传感器测量轴径；被测轴径垂直通过激光光束；利用比较测量法提高传感器的测量范围。本发明测量范围大、通用性强、测量精度高，并能够给出具体测量值。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20230505

⏳ 专利实施许可合同备案的注销：

20220408

⏳ 专利实施许可合同备案的生效：

20220308

?? 专利权的转移：

20210205

?? 专利权的转移：

20180112

✅ 授权

20160217

⏳ 著录事项变更：

20160120

?? 实质审查的生效：

20151223

📄 公开

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