摘要
本发明公开了一种基于SiPM的多光子探测方法,通过对SiPM的暗计数统计,获得暗计数的概率分布图,通过得到的概率分布图求出高斯分布的μ0,Δμ,σ0,σε四个参数,当作用光源是相干光源时,光子数的概率密度函数服从泊松分布,建立泊松分布的数学模型并进行与实测数据的波形匹配,精确计算出探测到的光子数量;当作用光源是非相干光源时,探测到n光子数的条件下脉冲高度为x时条件概率密度函数fX|N(x|n)服从高斯分布,建立高斯分布的数学模型并与实测数据进行匹配,计算出探测到的光子数量;本发明能够精确探测单个光子至多个光子精度的光子数量。