发明专利已授权

阴影莫尔参数标定用结构、标定方法及失调误差消除方法

Name: 阴影莫尔参数标定用结构、标定方法及失调误差消除方法
Brand: 西安工业大学
SKU: 2017109113386
Availability: InStock

📄 申请号：CN201710911338.6 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2017-09-29

公开号

CN107727002B

公开日

2020-03-13

申请人

西安工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_25

IPC 分类号

G01B11_25

技术画像

所属领域

光学测量光学测量莫尔条纹技术标定方法

应用场景

三维形貌测量, 工业精密检测, 光学计量, 表面缺陷检测

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摘要

本发明涉及一种阴影莫尔参数标定用结构、标定方法及失调误差消除方法。该结构由点光源、主摄像机CCD、辅助摄像机CCD、测量光栅和电动位移台组成，测量光栅水平设置于主摄像机CCD的正下方，点光源和辅助摄像机CCD分别设置于主摄像机CCD的两侧，电动位移台上设置有被测物，所述点光源为单色的，其斜向照射测量光栅，为被测物表面投射变形光栅，主摄像机CCD透过测量光栅观测时，测量光栅与变形光栅交叠作用产生莫尔条纹图，主摄像机CCD与辅助摄像机CCD形成了立体视觉测量系统，世界坐标系建立在CCD的光学中心。本发明主要应用空间稀疏点坐标测量，因此立体视觉就提供了方便的途径。

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20200313

✅ 授权

20180320

?? 实质审查的生效：

20180223

📄 公开

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