发明专利已授权

一种细长孔几何参数测量装置以及方法

📄 申请号：CN201711053865.4 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2017-10-31

公开号

CN107843214A

公开日

2018-03-27

申请人

西安理工大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_27

IPC 分类号

G01B11_27 , G01B11_24 ,

技术画像

所属领域

测量装置精密测量技术几何量检测机械加工质量检测测量装置

应用场景

机械制造, 质量控制, 在线检测, 精密加工

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摘要

本发明涉及光电检测技术领域，尤其是涉及一种细长孔几何参数测量装置以及方法。该测量装置包括定位机构、行走机构和测量机构；所述定位机构用于使待测工件进行自动定心；所述测量机构包括：自动定心测头、韧性测杆、激光器、气动传感器和CCD处理器；所述激光器的光纤穿设于所述韧性测杆的内部通道与所述激光瞄准器连接，所述激光瞄准器与所述CCD处理器信号连接；所述气动传感器的气源通过所述韧性测杆的进气孔与所述气动定心测头连通；所述行走机构用于携带韧性测杆进行移动并使其第二端的自动定心测头移动至待测工件的细长孔入口处。本发明可以方便地实现细长孔轴线直线度及圆度检测工作,不受测杆的刚度和长度的限制。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20200114

✅ 授权

20180420

?? 实质审查的生效：

20180327

📄 公开

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