发明专利已授权

基于二维稀疏S变换快速频域解相的三维面形测量方法

📄 申请号：CN201910464268.3 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2019-05-30

公开号

CN110230996B

公开日

2020-10-27

申请人

西安理工大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_25

IPC 分类号

G01B11_25

技术画像

所属领域

三维形貌测量三维形貌测量光学测量相位解调

应用场景

工业检测, 逆向工程, 三维扫描建模, 医疗成像, 机器视觉

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摘要

本发明公开了一种基于二维稀疏S变换快速频域解相的三维面形测量方法，首先向待测物体投射正弦结构光栅，采集受到待测物体高度分布调制的变形光栅，然后通过二维稀疏S变换处理获得的变形条纹图，得到四维的二维稀疏S变换系数矩阵；从二维稀疏S变换系数矩阵中求取相位，得到包裹在[‑π，+π]之间的截断相位；最后对截断相位进行相位展开，得到连续分布的自然相位，根据相位与高度分布调制关系，得到待测物体的三维面形分布。本发明解决了现有技术中存在的三维面形测量精度低的问题。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20201027

✅ 授权

20191015

?? 实质审查的生效：

20190913

📄 公开

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