发明专利 已授权

一种基于CIP数据质量控制的云微粒子分类方法

📄 申请号:CN202010495758.2 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2020-06-03
公开号
CN111860571A
公开日
2020-10-30
申请人
成都信息工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

云计算服务, 大数据分析, 数据中心管理

摘要

本发明涉及一种基于CIP数据质量控制的云微粒子分类方法,主要包括首先对CIP图像进行预处理,然后对二值化的CIP图像进行云微粒子图像质量控制,接着CIP图像进行分割处理,建立基于迁移学习的深度神经网络分类模型,由于现有方法中缺乏对CIP数据进行图像质量控制并结合深度神经网络对CIP云微粒子图像进行分类,通过该方法可有效的提高对CIP云微粒子图像分类准确率。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20210525
✅ 授权
20201117
?? 实质审查的生效 :
20201030
📄 公开
议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:16 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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