实用新型已授权

一种可调节式半导体检测用定位装置

📄 申请号：CN202320276417.5 📄 发布日：2026/07/15

著录项目信息

申请日

2023-02-21

公开号

CN219200480U

公开日

2023-06-16

申请人

南通米格半导体检测技术有限公司

法律状态

已下证

专利类型

实用新型

主分类号

G01D11_30

IPC 分类号

G01D11_30

技术画像

所属领域

半导体检测半导体检测定位装置半导体制造设备

应用场景

半导体检测, 晶圆检测, 芯片封装测试, 探针测试, 半导体制造

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摘要

本申请提供了一种可调节式半导体检测用定位装置，属于半导体检测技术领域，以解决难以对定位后的半导体进行移动的问题，包括底座和调节箱，所述传动轴的一侧固定连接有丝杆，且丝杆的外壁螺纹连接有移动块，所述丝杆的下方安装有限位杆，且限位杆的外壁安装有限位块，所述限位块的下方固定连接有第一液压杆，且第一液压杆的下方固定连接有连接块。本申请通过设置的丝杆，当使用者需要对待检测的半导体的位置进行调整时，使用者可以打开驱动电机，在驱动电机的作用下，传动轴带动丝杆开始旋转，在限位杆与限位块的作用下，丝杆旋转的过程中，可以带动移动块移动，使移动块带动安装槽移动，方便使用者对检测的半导体的位置进行调整。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种用于半导体检测的晶圆承托装置

当前第 / 件

一种半导体检测用翻转装置

同领域国内专利 · IPC: (G01D11_30)

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