发明专利已授权

一种纳米聚合物薄膜线性流变行为的测量和分析方法

📄 申请号：CN202310030617.7 📄 发布日：2026/06/16

著录项目信息

申请日

2023-01-10

公开号

CN116840099A

公开日

2023-10-03

申请人

浙江理工大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N11_00

IPC 分类号

G01N11_00

技术画像

所属领域

纳米材料纳米材料聚合物薄膜流变学测量

应用场景

材料科学研究, 高分子材料开发, 薄膜性能测试, 涂料与涂层工艺, 纳米器件制造

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摘要

本发明属于聚合物测量分析技术领域，具体涉及一种纳米聚合物薄膜流变行为的测量和分析方法。本发明将聚合物薄膜加热至温度T后保温；将液滴置于温度为T的聚合物薄膜表面，保持温度T放置时间t；将放置有液滴的聚合物薄膜冷却后去除液滴，测量液滴作用下聚合物表面凸起形变的高度h；改变所述液滴在聚合物薄膜表面的放置时间t，测量液滴在不同放置时间和温度条件下聚合物薄膜表面形成的凸起形变的高度h；对等效h(t)～t关系进行变换可获得所述聚合物薄膜的储能模量和损耗模量随频率的变化，即聚合物薄膜的线性粘弹谱。本发明能够准确测定纳米聚合物薄膜的储能模量和损耗模量随频率依赖性，实现对薄膜的线性流变和分子运动行为的分析。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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