发明专利 已授权

一种改进式白光干涉仪及其消除扫描误差的方法

📄 申请号:CN202410341958.0 📄 发布日:2026/05/07

著录项目信息

申请日
2024-03-25
公开号
CN117928371A
公开日
2024-04-26
申请人
华侨大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业精密测量, 表面形貌检测, 半导体晶圆检测, 光学元件检测, 精密制造质量控制

摘要

本发明涉及白光干涉仪领域,公开了一种改进式白光干涉仪,包括光源、参考单元、反射单元、分束单元和采集单元,通过在普通白光干涉仪中加入分光棱镜、带通滤波器和光电二极管,采集到具有更好的空间相干性、时间相干性的单色光干涉信号,成本较低,结构简单容易实现;本发明还公开了一种改进式白光干涉仪消除扫描误差的方法,通过处理光电二极管得到的具有相同相位分布的单色光信号来修正白光干涉信号,消除由参考臂的非匀速运动和环境振动引入的相位误差,用以提高白光干涉测量系统在复杂环境中测量精度和重复性。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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