发明专利已授权

一种在透射电子显微镜下获取环形暗场图像的方法

📄 申请号：CN201710312330.8 📄 发布日：2026/05/07

著录项目信息

申请日

2017-05-05

申请人

燕山大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N23_04

IPC 分类号

G01N23_04

技术画像

所属领域

透射电子显微镜电子显微技术图像分析材料表征电子显微镜透射电子显微镜

应用场景

材料科学研究, 纳米材料分析, 生物医学研究, 半导体检测, 失效分析

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摘要

一种在透射电子显微镜下获取环形暗场图像的方法，其所包含以下步骤：首先选取需要拍摄图像的区域，采集多晶电子衍射环；然后选取需要获取环形暗场图像的衍射环，使用透射电子显微镜物镜光阑在此衍射环的半环上进行连续的暗场图像采集；最后将所采集的所有暗场图像使用软件叠加到一张图片上获取环形暗场图像。该方法具有操作简单、成本低且容易实现的优点。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20190910

✅ 授权

20171117

?? 实质审查的生效：

20171020

📄 公开

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