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本发明涉及一种在透射电子显微镜下快速精确测量小角晶界取向差的方法。该方法包含两个部分：第一、利用透射电镜双倾技术采集晶粒特定菊池线；第二、提出一种计算相邻晶粒之间取向差的新方法。步骤为：使用双倾样品杆把待测区域的中心晶粒倾转到特定的晶带轴，并采集该晶粒的菊池线；然后在相同的条件下采集与之相邻的晶粒的菊池线，叠加采集的菊池线，测量参数；最后采用公式cosΘ＝(cosγ+cosγcosθ+cosθ‑1)/2计算晶粒之间的位向差。本发明具有操作简单、计算便捷、精度高等优点。

一种在透射电子显微镜下获取环形暗场图像的方法，其所包含以下步骤：首先选取需要拍摄图像的区域，采集多晶电子衍射环；然后选取需要获取环形暗场图像的衍射环，使用透射电子显微镜物镜光阑在此衍射环的半环上进行连续的暗场图像采集；最后将所采集的所有暗场图像使用软件叠加到一张图片上获取环形暗场图像。该方法具有操作简单、成本低且容易实现的优点。

一种透射电子显微镜检测区域的定位方法，其主要是：将标记好的样品放入配有侧插式样品台的透射电子显微镜样品杆，确保样品上标记的直线平行于样品杆的轴向方向。样品检测时，每完成一个检测区域的数据采集工作时，需记录样品杆参数：X、Y、Z、α、β，其中X、Y、Z为正在检测区域的坐标值，α、β为此时样品杆的两个倾转角。对于需要补充数据的检测区域，根据记录的样品杆参数：X、Y、Z、α、β，采用下式计算得出其目前坐标X0、Y0:其中X0、Y0为再次检测时上次检测区域此时的坐标值，根据X0、Y0坐标找到指定区域。本发明不需要添加硬件设备，操作简单，易行；而且计算简单，易于编程实现；可用于透射电子显微镜样品再次检测时定位之前检测的区域。

本实用新型公开了一种可加磁场的透射电子显微镜样品杆，包括前端细杆主体，前端细杆主体的一侧设置有样品杆头，样品杆头的顶部设置有样品上盖片，样品上盖片的底部设置有样品下盖片；该一种可加磁场的透射电子显微镜样品杆通过设置样品固定机构，通过转动样品固定板使得样品放置孔显露，讲样品放置在样品放置孔内部，再次转动样品固定板直至到样品放置孔顶部，通过拧紧固定板调节螺栓，将样品固定板固定在样品放置孔顶部，使得对样品进行固定，此时将该显微镜样品杆放入透射电子显微镜中，使得透射电子显微镜对样品观察口内部的样品进行观察，实现了该一种可加磁场的透射电子显微镜样品杆的样品固定功能。

本实用新型公开了一种透射电子显微镜样品杆放置架，属于电子显微镜技术领域，其结构包括底座、两支撑板以及顶板，顶板顶部滑动配合有顶罩，顶罩内侧壁固定有两组照明灯，且顶罩上贯穿固定有观察筒，观察筒内固定有放大镜，两支撑板内侧面顶部活动连接有用于支撑样品杆的承载板，底座一侧滑动配合有盛接板，盛接板上表面开设有回收槽和防污槽，且回收槽和防污槽内均叠落有若干盛接纸。本实用新型示例的透射电子显微镜样品杆放置架能够放大样品杆的端部以及铜网并提供光照，辅助操作人员将承载样品的铜网快速且稳定地放置在样品杆的铜网槽内，且可收集使用后的铜网及样品，可避免铜网掉落时样品与外界环境接触而被污染。