发明专利 已授权

一种晶圆测量设备、系统及方法

📄 申请号:CN202210207622.6 📄 发布日:2026/05/07

著录项目信息

申请日
2022-03-03
公开号
CN114485476B
公开日
2024-03-15
申请人
华侨大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

半导体制造, 晶圆缺陷检测, 集成电路工艺控制, 晶圆质量检测

摘要

本发明提供了一种晶圆测量设备、系统及方法,包括:减震平台、配置在减震平台上的二维运动模组、配置在二维运动模组上的晶圆放置台、配置在晶圆放置台上方的滑轨、可移动配置在滑轨上的光路产生系统、以及可移动配置在滑轨上的光路接收系统;晶圆放置台用于放置待测晶圆和基准平晶;二维运动模组用于带动所述晶圆放置台在平行与所述减震平台的平面进行二维平面运动;所述光路产生系统用于产生照射在所述待测晶圆和所述基准平晶上的准直光束;所述光路接收系统用于接收所述准直光束在所述待测晶圆和所述基准平晶反射产生的干涉图像。解决了现有技术中的测量系统无法测量面积较大的晶圆的问题和避免因光路细微的偏离,导致测量的结果存在误差。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

……

……

图1
图2
图3

法律状态时间线

相似专利推荐 AI 驱动 · 同领域

暂无同领域相似专利推荐
议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:69 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

资金托管 权属尽调 包过户
🏢 淄博智来知识产权服务有限公司
✓ 企业认证✓ 手机绑定历史成交 0件好评率 98.5%

📊 出价记录 (3条)
王**¥-10万
李** 企业¥-8万
陈**¥-3万
查看全部出价