实用新型 已授权

一种掩模版表面缺陷检测装置

📄 申请号:CN202223214490.4 📄 发布日:2026/04/02

著录项目信息

申请日
2022-12-02
公开号
CN219392466U
公开日
2023-07-21
申请人
无锡灿晶微电子科技有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

半导体制造, 光掩模制造, 平板显示制造, 微电子加工

摘要

本实用新型涉及建筑工程施工质量检测技术领域,尤其涉及一种掩模版表面缺陷检测装置,包括:检测壳体,检测壳体的沿其长度方向上的一端设有开口,检测壳体的另一端设有探针伸出孔,检测壳体周壁上设有可视窗口;推杆,推杆沿检测壳体的开口穿设于检测壳体内,推杆可沿检测壳体长度方向活动,推杆的底部设有探针安装部,推杆上设有数据展示部,数据展示部对应设在可视窗口内;探针,探针安装在推杆底部的探针安装部上,探针伸出孔可供探针穿过。本实用新型的掩模版表面缺陷检测装置,增加探针的稳固性,通过推动推杆运动,探针穿过厚型涂料到达钢构件基材表面,探针推入的深度能很直观地在刻度量程范围内读出,检测过程操作简单,测量结果直观显示,测量结果准确。

常见问题

这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN219392466U

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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