发明专利 已授权

一种微控制器应用功能性能完整性测试方法及系统

📄 申请号:CN202311344893.7 📄 发布日:2026/06/04

著录项目信息

申请日
2023-10-18
公开号
CN117076223A
公开日
2023-11-17
申请人
北京航空航天大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

汽车电子, 工业控制, 医疗设备, 消费电子, 智能家居

摘要

本发明公开的微控制器应用功能性能完整性测试方法及系统,涉及电数字数据处理领域。本发明从应用场景的角度出发,考虑用户的使用情况,基于待测试微控制器的片上资源和应用需求设置测试指标参数、对比式测试方法和合格判断依据,并基于设置的测试指标参数和对比式测试方法搭建测试环境,以便科学、合理地进行微控制器的应用功能性能完整性测试,有效的验证了器件的可用性和兼容性,不仅能够指导用户合理使用元器件,降低电子元器件的应用风险,还可以把发现的问题反馈给芯片研制单位,为提升器件自主可控能力提供有效的支撑,可协助解决微控制器验证过程中无依据和验证平台的难题,进而加快推进中国自主生产可控芯片在工程上的应用。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:116 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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