发明专利 已授权

纳米线与纳米线间界面作用力测量方法及装置

📄 申请号:CN202210137176.6 📄 发布日:2026/01/23

著录项目信息

申请日
2022-02-15
公开号
CN114689659B
公开日
2025-01-14
申请人
苏州工学院
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

纳米材料研发, 半导体器件制造, 微纳机电系统, 材料力学性能测试, 科研仪器

摘要

本发明公开了一种纳米线与纳米线间界面作用力测量方法,包括通过测量两根头部搭接的纳米线在相背移动产生剥离趋势时的变形量以及两者间接触电阻的变化,进而得到纳米线与纳米线间的界面作用力与接触电阻的关系,之后通过测量纳米线与纳米线间的接触电阻即可实时得到纳米线间的界面作用力。本发明还公开了纳米线与纳米线间界面作用力测量装置。本发明通过使纳米线形变确定纳米线间界面作用力与接触电阻的关系,进而由接触电阻的测量间接实现了纳米线间界面作用力的实时测量。

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是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN114689659B

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图2
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