发明专利 已授权

一种基于纯光学检测有机发光二极管老化的方法

📄 申请号:CN202411397538.0 📄 发布日:2026/04/16

著录项目信息

申请日
2024-02-04
公开号
CN119300203B
公开日
2025-06-20
申请人
重庆师范大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

显示面板制造, OLED器件质检, 发光材料老化评估, 光电检测设备

摘要

本发明为一种基于纯光学检测有机发光二极管老化的方法,涉及OLED检测技术领域,首先将待测OLED面板放置在指定测试槽,对OLED面板通电,不断刷新OLED面板中正负极间电流强度,使得所述待测OLED面板中的每个像素所发的光信息透过对应的滤光层,所述滤光层后衍生有感光层,所述感光层设置有多个感光单元,所述感光单元用于采集透过所述滤光层的光信号。本发明开发的技术可以在保证OLED面板本身生产成本和厚度的前提下,具有检测结果准确、不影响原显示板的结构、破坏性低的效果。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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