发明专利已授权

降低缓存命中率的内存测试方法

📄 申请号：CN201510808418.X 📄 发布日：2025/12/03

著录项目信息

申请日

2015-11-19

公开号

CN105373456B

公开日

2018-06-29

申请人

英业达科技有限公司,英业达股份有限公司

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G06F11_26

IPC 分类号

G06F11_26

技术画像

所属领域

内存测试内存测试缓存技术存储器可靠性

应用场景

芯片测试, 计算机系统测试, 内存故障检测, 服务器可靠性验证

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摘要

本发明提供一种降低缓存命中率的内存测试方法，包括：将待测内存划分为若干预设大小的内存区段；将预设的内存测试算法划分为若干测试步骤；对所述若干内存区段依次执行所述若干测试步骤；其中，在每一所述内存区段执行任意两个连续的所述测试步骤之间，至少对另一所述内存区段执行一所述测试步骤。本发明通过依次对不同的内存区段执行测试步骤，实现了缓存无法持续形成有效的关注区段，使得缓存状态一直在抖动，降低了缓存命中率，从而提高了内存测试的有效性；并进一步通过监测并统计所述内存测试算法执行过程的执行时间与缓存命中，根据统计结果优化内存测试算法的测试步骤划分，从而兼顾考虑内存测试的效率和有效性，优化所述内存测试方法。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

具有温度管理功能的电子装置

当前第 / 件

自适应网络压测的配置方法、系统、可读存储介质及设备

同领域国内专利 · IPC: (G06F11_26)

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