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本发明提供一种降低缓存命中率的内存测试方法，包括：将待测内存划分为若干预设大小的内存区段；将预设的内存测试算法划分为若干测试步骤；对所述若干内存区段依次执行所述若干测试步骤；其中，在每一所述内存区段执行任意两个连续的所述测试步骤之间，至少对另一所述内存区段执行一所述测试步骤。本发明通过依次对不同的内存区段执行测试步骤，实现了缓存无法持续形成有效的关注区段，使得缓存状态一直在抖动，降低了缓存命中率，从而提高了内存测试的有效性；并进一步通过监测并统计所述内存测试算法执行过程的执行时间与缓存命中，根据统计结果优化内存测试算法的测试步骤划分，从而兼顾考虑内存测试的效率和有效性，优化所述内存测试方法。

本发明涉及一种以可扩展固件接口进行内存测试的计算装置及其方法，其通过可扩展固件接口初始化处理器的主内核及测试内核后，主内核获取系统内存的存储容量，并为测试内核分配测试区域，使测试内核进行内存测试，同时，主内核在测试内核测试内存的过程中检测是否有错误产生的技术手段，可以在计算装置载入操作系统前进行内存测试，并达成提高内存的测试覆盖率及测试效率的技术功效。