发明专利 已授权

离散量子密钥分发中针对器件缺陷的攻击检测方法

📄 申请号:CN202010831680.7 📄 发布日:2025/09/19

著录项目信息

申请日
2020-08-18
公开号
CN111988130B
公开日
2022-06-07
申请人
中南大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

量子通信, 网络安全, 密钥分发, 信息安全防护

摘要

本发明公开了一种离散量子密钥分发中针对器件缺陷的攻击检测方法,包括搭建以InGaAs‑based SPAD为单光子探测器件的离散量子密钥分发系统;进行正常和攻击情况的量子密钥分发并获取正、负样本数据;制作训练数据集并训练得到攻击检测分类器;采用攻击检测分类器监测正常通信的离散量子密钥分发并完成针对器件缺陷的攻击检测。本发明采用小波变换处理数据集,放大数据集隐藏细节;采用LSTM结合Batch Normalization层、池化层,全连接层以及softmax层的网络结构保证了攻击检测的效果;因此本发明能够有效监测针对InGaAs‑based SPAD器件缺陷的攻击,而且可靠性高、准确性好。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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