发明专利 已授权

一种低畸变堆栈式扫描探针显微头和扫描头

📄 申请号:CN202210078911.0 📄 发布日:2026/06/16

著录项目信息

申请日
2022-01-24
公开号
CN114594282A
公开日
2022-06-07
申请人
南京信息工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

纳米表面表征, 材料科学研究, 半导体检测, 精密计量, 科研仪器

摘要

本发明公开了一种用于一种低畸变堆栈式扫描探针显微头和扫描头,显微头包括X堆栈、Y堆栈、探针模块以及薄片,所述X堆栈、Y堆栈之间通过薄片粘接,X堆栈和Y堆栈以及探针模块。X堆栈、Y堆栈都是由正方形压电片堆栈而成,结构完全一致,其中一个仅负责X方向形变,Y方向通过粘接薄片使其无法形变;另一个则只负责Y方向形变,X方向不发生形变。从而实现X、Y方向扫描的结构分离,也解决了非正交问题,因此会大大降低扫描畸变。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

20241029
✅ 授权
20220624
?? 实质审查的生效 :
20220607
📄 公开

同领域国内专利 · IPC: (G01Q10_00)

G01Q10_00 覆盖1个领域
议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:42 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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