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| 专利/申请号： | CN202321597160.X | 专利名称： | 一种便于取料的光学膜厚测量仪 |
| 申请日： | 2023-06-21 | 申请/专利权人 | 上海仁晶测量技术有限公司 |
| 专利类型： | 实用新型 | 地址： | 上海市浦东新区临港新片区环湖西二路888号C楼 |
| 专利状态： | 已下证 查询审查信息 | IPC分类号： | G01B11/06 分类检索 |
| 公开/公告日： | 2023-12-12 | 转让价格： | 【平台担保交易】 |
| 公开/公告号： | CN220170177U | 交易状态： | 等待洽谈 搜索相似专利 |
| 浏览量： | 7 | 所属领域： | 光学仪器专利转让搜索 |
应用场景：光学薄膜厚度检测; 半导体制造; 镀膜工艺质量控制
摘 要：本实用新型涉及光学膜厚度测量技术领域，且公开了一种便于取料的光学膜厚测量仪，包括底座，所述底座的顶部设置有连接座，所述底座的顶部设置有位于连接座右侧的立柱，所述底座的顶部设置与连接座右侧壁转动连接的移动组件，所述移动组件与立柱的内部连接，所述立柱的顶部设置有横板，所述横板的底部设置有上激光器。该便于取料的光学膜厚测量仪，通过设置夹持组件，由伺服电机、转动杆、两个收卷辊和牵引绳的配合使用，使得两个第二夹持板下移对光学膜的顶部进行固定夹持，进而实现可以对光学膜进行夹持固定的目的，避免在测量时光学膜产生偏移进而出现测量误差的情况发生，提高了仪器的实用性，便于工作人员使用。
| 交易方 | 企业 | 个人 |
| 买家 | 营业执照副本复印件（需盖公章） | 身份证复印件（签字） |
| 专利转让委托书（需盖公章）一式两份 | 专利转让委托书（需签字）一式两份 | |
| 专利转让协议（需盖公章）一式两份 | 专利转让协议（需签字）一式两份 | |
| 卖家 | 营业执照副本复印件（需盖公章） | 身份证复印件（需申请人签字） |
| 解除代理委托书（需盖公章）一式两份（如专利通过代理机构申请） | 解除代理委托书（需签字）一式两份（如专利通过代理机构申请） | |
| 专利转让协议（需盖公章）一式两份 | 专利转让协议（需签字）一式两份 | |
| 专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
| 专利证原件（若授权下证） | 专利证原件（若授权下证） |
| 日期 | 法律信息 | 备注 |
| 申请号 | 专利名称 | 发布日期 |
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