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摘 要:本发明公开了一种用于量测数字片上系统(SoC)的功耗以预测由SoC使用的电池的电池寿命的方法。寻求能够观测小型、低成本SoC(尤其是IoT系统的SoC)的电池寿命的目的能够通过包括以下步骤的方法实现:将SoC的所有数字电路装置划分成电压域和/或时钟域;每次所述域的门被切换时,通过对每个域的电荷脉冲进行计数,来量测每个域的功耗;通过累加器累加每个域的所述计数的电荷脉冲;通过SoC的所述域计算电池放出的所有电荷的总和R;对所述总和R进行后续处理,以通过集成微处理器预测电池寿命;以及发出信号通知即将发生的电池损耗。上述SoC便宜、紧凑节省空间,并且可以避免对外部组件的需求。本发明还公开了一种用于执行量测SoC功耗的方法的装置。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201980016438.X | 专利名称: | 用于量测数字SoC的功耗以预测电池寿命的方法和装置 |
申请日: | 2019-11-12 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 地址: | ||
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01R22/10搜分类 集成电路搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |