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摘 要:本发明涉及一种半导体制冷片综合测试设备,包括机架,所述的机架设置有进料装置、分拣装置及控制器,所述的进料装置包括料盘输送带、空盘输送带、待测品输送带、进料搬运机构及视觉测试机构,所述的分拣装置包括电阻测试机构、厚度测试机构、第一分拣搬运机构、第二分拣搬运机构、合格品输送带及不合格品输送带。采用上述方案,本发明提供一种按电阻值及厚度进行区分回收、检测准确、检测效率高的半导体制冷片综合测试设备。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810054054.4 | 专利名称: | 半导体制冷片综合测试设备 |
申请日: | 2018-01-19 | 申请/专利权人 | 温州职业技术学院 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 浙江省温州市瓯海区东方南路38号温州市国家大学科技园孵化器 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | B07C5/00搜分类 半导体 半导体制冷搜索 |
公开/公告日: | 2024-04-02 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN108176599B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |