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专利名称：半导体制冷片综合测试设备申请号：2018100540544 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：半导体半导体制冷相似专利发布日：2024/06/13
摘要：本发明涉及一种半导体制冷片综合测试设备，包括机架，所述的机架设置有进料装置、分拣装置及控制器，所述的进料装置包括料盘输送带、空盘输送带、待测品输送带、进料搬运机构及视觉测试机构，所述的分拣装置包括电阻测试机构、厚度测试机构、第一分拣搬运机构、第二分拣搬运机构、合格品输送带及不合格品输送带。采用上述方案，本发明提供一种按电阻值及厚度进行区分回收、检测准确、检测效率高的半导体制冷片综合测试设备。

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