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摘 要:本发明公开同时测量磁介质材料介电常数和磁导率的高Q有源谐振器。由无源谐振器和负电阻电路构成;无源谐振器包括微带线结构、介质层、金属薄片、刻槽金属CSRR结构;刻槽金属CSRR结构由带有开口的槽环构成;位于槽环开口对面的两直角均向环内弯折,该区域电场强度最强,用以测量介电常数;向内弯折的两直角间由水平翻转后“凵”结构以及连接板构成;槽环的开口分别向环内外延伸,此区域磁场强度最强,用以测量磁导率。本发明能够在同一传感器不同区域同时测量介电常数和磁导率,并且由于其具有极高的灵敏度和Q值,从而保证了测量的准确度。因此很适用于测量介电常数和磁导率较高的磁介质材料。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201910414535.6 | 专利名称: | 同时测量磁介质材料介电常数和磁导率的高Q有源谐振器 |
申请日: | 2019-05-17 | 申请/专利权人 | 杭州电子科技大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | H01P7/00搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 2019-08-23 | 转让价格: | 15300.0元 |
公开/公告号: | CN110165353A | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |