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  • 专利名称:激光器输出跳线镜片检测工装      申请号:2021108624111     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:光学检测设备 激光加工装备辅助装置   相似专利 发布日:2025/09/01  
    摘要: 本发明公开了激光器输出跳线镜片检测工装,属于检测工装技术领域。激光器输出跳线镜片检测工装,包括安装箱,所述安装箱内从左至右依次开设有腔体和安装腔,还包括:固定连接在所述安装箱侧壁的风筒;固定连接在所述风筒内的安装架;固定连接在所述安装架上的电机;固定连接在所述电机输出端的驱动轴,其中,所述第一气管远离风筒的一端延伸至腔体的底部,所述腔体填装有水,且水位高于第一气管的输出端;本发明通过使镜片可以在安装腔内左右旋转和上下旋转,工作人员在检测镜片的时候无需打开孔盖拨弄镜片便可以对镜片进行全方位的检测,从而避免镜片在检测的过程中及检测过后发生脏污。
  • 专利名称:一种PCB板光学检测设备      申请号:2023216745682     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:实用新型   关键词:电路板 光学检测设备   相似专利 发布日:2025/08/08  
    摘要: 本实用新型公开了一种PCB板光学检测设备,包括PCB板送给机构、机台及光学检测装置,所述光学检测装置及PCB板送给机构均设置在机台上,所述光学检测装置架设于PCB板送给机构的上方;本实用新型设置有一对用来抵接PCB板两侧的传送带,能够根据PCB板的宽度进行快速调节两个传送带的间距,能够保证PCB板可靠、稳定的输送至光学检测镜头的下方,不会发生PCB板碰撞翘边、掉落甚至是无法输送的情况出现;对称分布设置的传送带的间距通过丝杆电机进行控制。
  • 专利名称:一种半导体晶圆光学检测设备和系统      申请号:2023226011859     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:实用新型   关键词:半导体 光学检测设备   相似专利 发布日:2024/11/19  
    摘要: 本实用新型公开了一种半导体晶圆光学检测设备和系统,涉及晶圆检测技术领域,包括检测模组、第一移动板和取样环,所述检测模组下方设有移动模组,所述移动模组一侧设有固定杆,所述固定杆上方设有固定块,多个驱动模块配合第一移动板和第二移动板可以将晶圆在移动模组、观察模组与放置模组之间拿取移动,托举与气动吸取晶圆的方式更加稳定,减少了晶圆在移动时产生的磨擦,提高了装置的安全性,且交叉重叠放置的第一移动板和第二移动板更加节省空间。
  • 专利名称:一种快速定位管状零件光学检测设备      申请号:2024101260457     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:光学仪器 光学检测设备   相似专利 发布日:2025/07/24  
    摘要: 本发明涉及光学检测技术领域,尤其涉及一种快速定位管状零件光学检测设备,本发明的发明点是本发明通过转动检测盘轴线平行与地面的设置,在保证检测效率的同时减少设备占地面积,并通过两侧的夹持爪和进出料盘的设计,能够实现设备的循环加工,并通过检测盘的倾斜边和固定电磁铁对管状零件的吸附作用,使得待检测零件能够快速的进行定位,本发明通过倾斜设置检测工作腔和电磁铁的设计,能够有效地实现对管状零件的定位,减免零件偏移的问题,从而提高光学检测的检测效率,本发明能够通过对转动盘的设计,能大幅减少检测设备的占地面积,进而降低设备的运行成本,也能便于设备的安装、拆卸和运输,从而大幅提升设备的检测效率。
  • 专利名称:一种稳定的半导体光学检测设备支撑装置      申请号:2023230890327     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:实用新型   关键词:半导体 光学检测设备   相似专利 发布日:2025/07/31  
    摘要: 本实用新型涉及半导体光学检测技术领域,提供一种稳定的半导体光学检测设备支撑装置,包括:工作台,所述工作台外表面的顶部固定连接有第二固定板,所述工作台外表面的顶部通过轴承连接有齿轮,所述齿轮的外表面啮合连接有移动条,所述工作台外表面的顶部固定连接有第一方块,所述移动条外表面的顶部固定连接有移动板,由移动板的移动对半导体进行夹持,同时拉动拉杆带动限位盘与卡杆向一侧移动,移动的同时使得卡杆从卡孔的内部脱离,可对移动条在移动的时候进行限位,弹簧对限位盘具有限位的作用,在没有受到任何外力的情况下卡杆卡在卡孔的内部。
  • 专利名称:一种半导体光学检测设备用分类装置      申请号:2023205975303     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:实用新型   关键词:半导体 检测技术 光学检测设备   相似专利 发布日:2024/03/01  
    摘要: 本实用新型公开的属于半导体技术领域,具体为一种半导体光学检测设备用分类装置,包括承载台和分类箱,所述承载台侧壁上设置有驱动电机,所述驱动电机输出端连接有螺纹杆,所述螺纹杆上螺接有移动块,所述移动块顶部转动连接有剪式支架,所述剪式支架顶部安装有连接块,通过驱动电机带动螺纹杆转动,螺纹杆转动时带动两个移动块向相反的方向移动,移动块移动时带动剪式升降架进行上升或下降,剪式升降杆带动承载台进行上升和下降,承载台上升或下降过程中带动连接架移动,连接架带动连接杆移动,连接杆移动过程中带动密封板进行开启或关闭,从而防止灰尘进入分类箱。
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