晶体管类专利转让_商标转让_知识产权评估交易

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专利名称：一种基于采集数据的半导体器件检测方法及系统申请号：2024115499872 转让价格：面议收藏
法律状态：授权未缴费类型：发明关键词：晶体管集成电路相似专利发布日：2025/04/17
摘要：本发明公开了一种基于采集数据的半导体器件检测方法及系统，涉及半导体领域，该方法包括收集实时数据；得到分类后的实时数据及风险变量列表；得到综合风险指数，且使用智能算法输出半导体器件检测过程中的参数指标和资源配置；判断综合风险指数是否超过报警阈值，若超过阈值，则发出报警信号，且根据生成的半导体器件检测过程中的参数指标和资源配置进行个性化检测流程和环境设置；按照个性化检测流程和环境设置对半导体器件进行检测；该系统实时数据收集模块、风险变量获取模块、推荐模块、设置模块及检测模块。本发明通过实时风险评估确保了检测过程的安全性，而个性化的检测流程推荐则提高了检测流程的适应性和灵活性。

专利名称：一种基于背栅晶体管的抗辐照技术及实现方法申请号：201410074966X 转让价格：面议收藏
法律状态：已下证类型：发明关键词：晶体管相似专利发布日：2025/02/08
摘要：一种基于背栅晶体管的抗辐照技术及实现方法，首先输入边界扫描测试信号，检测输出信号，检测到的输出信号与理想输出信号比较，如果二者近似程度满足要求，则停止测试，如果二者相差较大，通过内建自优化器改变芯片内各个块的背栅偏置，调节各个块内晶体管的阈值电压，通过调解后再检测输出信号，这样一直重复，直至测试输出信号与理想输出信号最大程度接近。通过边界扫描测试检测，内建自优化器调节背栅偏置可有效抑制晶体管的阈值电压偏移，从而改善晶体管的性能，达到抗辐照的功能，且本发明的抗辐照技术具有集成度高，速度快，抗辐照能力强等特点，并且成本低，工艺简单，易于实现。

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