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  • 专利名称:一种提升BE光刻工艺对位性能的方法      申请号:2021107516675     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:工艺 光刻 光刻工艺   相似专利 发布日:2023/10/10  
    摘要: 本发明公开了一种提升BE光刻工艺对位性能的方法,包括以下步骤:(a)通过前层BV光刻技术在硅片上制作对准标记沟槽和套刻标记沟槽;(b)在对准标记沟槽和套刻标记槽沟内通过电沉积形成Cu镀层,控制沉积量使对准标记沟槽和套刻标记沟槽的顶部预留一小段沟槽;(c)沉积TaN形成第一TaN层并经CMP平坦化;(d)在硅片表面覆盖上掩膜版,使对准标记沟槽和套刻标记沟槽上方的区域暴露形成矩形刻蚀区域,对矩形刻蚀区域进行刻蚀,形成沉积沟槽;(e)除去掩膜版,在硅片表面沉积第二TaN层,使对准标记沟槽、套刻标记沟槽及沉积沟槽形成呈现随形拓扑结构的对位标记。本发明能实现BE‑BV之间的直接套刻对位,降低后续工艺复杂性和成本,提高对位精度。
  • 专利名称:一种晶圆片光刻工艺      申请号:2018105348387     转让价格:面议  收藏
    法律状态:已下证   类型:发明   关键词:半导体 工艺 光刻 光刻工艺   相似专利 发布日:2022/07/28  
    摘要: 本发明属于晶圆片光刻技术领域,具体说是一种晶圆片光刻工艺,该工艺采用的光刻机用晶圆片匀胶装置包括固定框、基座、水平调节装置、固定支架、旋转装置、真空吸盘、真空发生器、可调节弹簧和感应装置;所述基座位于固定框上部;所述水平调节装置固定在固定框内;所述固定支架安装在基座上方;所述旋转装置安装在固定支架上;所属真空吸盘位于旋转装置上方;所述真空发生器位于真空吸盘右下方,真空发生器与真空吸盘相连通;所述可调节弹簧数量为三,可调节弹簧之间呈120°分布,可调节弹簧位于基座与固定框之间;所述感应装置位于固定框上方;本装置可以有效保证晶圆片水平固定在真空吸盘上,从而保证晶圆片表面涂覆胶的厚度均匀。
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