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本发明涉及一种光学元件表面形貌及亚表面缺陷信息的检测方法及其装置。其利用波长信息测量距离，由光源射出一束宽光谱的复色光（呈白色），通过色散镜头发生光谱色散，形成不同波长的单色光，每一个波长的焦点都对应一个距离值；测量光射到物体表面被反射回来，只有满足共焦条件的单色光，可以通过小孔被光谱仪感测到，通过计算被感测的焦点的波长，换算获得距离值。利用两个光谱仪分别接收待测元件的表面以及内部缺陷的光波信息，从而同时得到光学元件的表面信息和内部缺陷的位置以及深度信息等。

本发明公开了一种平面光学元件旋转平移绝对检测中心对准方法。首先在被测光学元件表面上选取一个特征标记点，被测光学元件绕光轴作多次旋转操作时,记录变动后特征点的位置，标记点轨迹是以旋转中心为圆心的圆，将标记点轨迹进行拟合得出旋转中心像素坐标。获取参考面上多个边缘坐标点同样进行圆拟合，得到参考面的圆心像素坐标。得到参考面中心与旋转中心的偏离距离，用调整机构分别在X,Y方向上调整旋转平台位置,使其与参考面中心重合。该方法采用最小二乘法拟合圆形轨迹，得到参考面和旋转中心，从而达到精确对准的目的，为波面重建提供较准确的波面信息，从而提高绝对检测的精度，具有很重要的作用。

本实用新型公开了一种光学元件切割机废屑收集机构，包括机台、废屑清理机构和废屑刮除机构；机台：其下端四角设有均匀分布的支座，机台的上表面后端设有切割箱，切割箱的内部设有切割机构，机台的上表面右端设有前后水平对称的立板，机台的内部设有滤网；废屑清理机构：其设置于两个立板的相对外侧面；废屑刮除机构：其设置于机台的内部，所述机台的左侧面设有控制开关组，控制开关组的输入端电连接外部电源，该光学元件切割机废屑收集机构，实现光学元件切割时废屑不易乱飞，切割后的光学元件表面的废屑能够及时清除下来进行收集，废屑收集效果更好，使环境更加干净。

本实用新型公开了一种光学元件研磨抛光装置，包括底架，底架的前端面固定连接有两个上下分布的支撑板，两个支撑板相背的一面均安装有气缸，两个气缸的输出端均贯穿支撑板并固定连接有固定板，两个固定板相背的一面均安装有第一电机，两个第一电机的输出端均贯穿固定板并固定连接有抛光轮，然后启动第二电机带动丝杆转动，使两个夹板相对运动，进而将光学元件进行夹持，通过第三电机将托盘移动至两个夹板的侧方，通过启动气缸带动两个抛光轮分别与光学元件的上端和下端贴合，接着启动两个第一电机带动抛光轮转动，以此来达到同时对光学元件上下两面进行打磨，打磨效率高的目的。

本发明公开了一种光学元件视觉检测平台，包括底座，底座顶部后端固定连接有光学元件检测仪，底座顶部中间滑动连接有移动底板，底座顶部前端固定连接有支撑柱，支撑柱顶端固定连接有工作箱。本发明，当需要对镜片进行清理时，将镜片通过工作箱顶部竖直放置于防护槽内，随后打开电机，电机在工作时带动电动伸缩杆二和镜片进行旋转，在电机工作时，带动齿轮一旋转，此时与齿轮一啮合的齿轮二旋转，且齿轮二与齿轮一旋转方向相反，使得清洁辊旋转，且清洁辊在旋转时对镜片上的槽口进行旋转清扫，可以对槽口内的灰尘进行软化擦除，同时随着电机工作，可以使夹紧的镜片在旋转时产生离心力，可以将加快槽口内的空气流动，同时对槽口内的灰尘吹出。