专利名称：一种半导体激光芯片的测试设备
申请号：2024104675480
转让价格：面议 收藏
法律状态：已下证
类型：发明
关键词：芯片测试 半导体元器件
相似专利
发布日：2025/09/23
应用场景：半导体激光器生产中的晶圆级性能测试;芯片良率筛选与质量控制;研发阶段的参数校准验证
专利名称：一种便于调节的芯片测试用定位装置
申请号：2023233259276
转让价格：面议 收藏
法律状态：已下证
类型：实用新型
关键词：芯片测试
相似专利
发布日：2025/05/14
摘要： 本申请提供一种便于调节的芯片测试用定位装置，涉及芯片制造设备领域。该便于调节的芯片测试用定位装置，包括底座，所述底座的内侧固定连接有位置调节组件，所述位置调节组件包括纵向调节组件、横向调节组件和测试组件，且所述纵向调节组件能够带动测试组件进行纵向位置调节，且所述横向调节组件能够带动测试组件进行横向位置调节。该便于调节的芯片测试用定位装置，在底座的内侧设置了位置调节组件，通过纵向调节组件能够带动测试组件进行纵向位置调节，通过横向调节组件能够带动测试组件进行横向位置调节，提高了芯片测试的效率，通过气泵为气囊充气，对芯片进行夹持固定，有效的减少了对芯片夹持时的损坏，提高了芯片的合格率。
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