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本实用新型公开了一种用于半导体检测用的连接装置，包括滑柱和连接组件；滑柱：其外弧面上端上端滑动连接有滑套，滑柱的外弧面下端活动套接有弹簧，滑柱的下端设有连接套，弹簧的上端和滑套的下表面固定连接，弹簧的上端和连接套的上表面固定连接，连接套的外弧面下端开设有出线孔；连接组件：包括大转球、大连接柱和半球座，所述半球座设置于连接套的下端，半球座和连接套组成整体的内部转动连接有大转球，大转球的下端设有大连接柱，大连接柱位于半球座的下方，连接组件还包括小连接柱，小连接柱设置于大转球的上端，该用于半导体检测用的连接装置，连接时不受半导体表面的限制，连接效果好。

本实用新型公开了一种用于半导体检测的治具，包括底板、上料单元和夹持单元；底板：其上表面分别设有GPRS数据传输模块和冂型架，冂型架水平板体中部的安装孔内设有红外工业相机；上料单元：设置于底板的上表面中部，上料单元的右端位于冂型架的内部；夹持单元：设置于冂型架的竖向板体中部；其中：所述底板的上表面设有PLC控制器，PLC控制器的输入端电连接外部电源，红外工业相机和GPRS数据传输模块均与PLC控制器双向电连接，所述上料单元包括锥形滑槽、冂型滑板、第一电机和丝杆，该用于半导体检测的治具，实现不同尺寸半导体的水平稳固夹持，避免半导体倾斜而导致半导体的检测不全面，半导体的检测效果更好。