专利交易市场

本发明涉及数据处理技术领域，具体涉及一种电子元器件表面缺陷识别方法，该方法获取待识别图像；将待识别图像划分为多个图像区块，筛选出待调整区块拼接为合并区块；获取待调整区块的整体趋势方向；获取待调整区块内每个像素点的离散度方向，基于离散度方向将所有像素点分类；获取每个像素点的离散度；筛选出待处理像素点，对于同一类的待处理像素点，依据每个待处理像素点的离散度方向、离散度以及该类的待处理像素点总数量获取该类的自适应结构元；对每个待处理像素点利用对应的自适应结构元进行形态学闭运算去除噪声，得到去噪图像，通过对去噪图像进行阈值分割得到缺陷识别结果。本发明能够使图像去噪的效果更好，使缺陷结果更加准确。