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摘 要:本发明属于光学检测领域,具体涉及一种光学系统多角度像质检测装置及方法,装置包括干涉仪、干涉仪二维调整基座、干涉仪运动导轨、第一折转镜三维调整基座、第一光路折转反射镜、折转镜移动导轨、第二光路折转反射镜、第二折转镜三维调整基座、被检光学系统、被检设备三维调整基座、被检设备移动导轨、标准镜移动导轨、标准平面反射镜、标准镜三维调整基座以及检测装置支撑架,该装置及方法能够通过改变光路折转反射镜、被检光学系统以及标准平面反射镜的位置与角度,对被检光学系统与重力成任意角度状态下的像质以及任意视场内的像质进行检测。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810711671.7 | 专利名称: | 一种光学系统多角度像质检测装置及方法 |
申请日: | 2018-07-03 | 申请/专利权人 | 长春理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 吉林省长春市卫星路7186号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01M11/02搜分类 光学仪器 仪器仪表 检测 光学系统搜索 |
公开/公告日: | 2020-08-04 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN108844720B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |