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摘 要:一种用于光学系统的像质检测装置、方法、设备以及介质,涉及光学检测技术领域,解决了现有检测装置在检测过程中的光学基准难以确定与光学基准的传递问题,且检测效率低的问题。所述干涉仪固定在调整平台上;所述五维调整台的前基准面与第二基准反射镜连接;所述第一基准反射镜安装在升降台上;所述升降台安装在俯仰调整台上;所述俯仰调整台安装在方位调整台上;所述方位调整台固定在滑块上;所述滑块和调整平台均与环形导轨滑动连接;所述经纬仪固定在五维调整台上;所述俯仰调整台、方位调整台和滑块与控制装置连接。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202211290157.3 | 专利名称: | 一种用于光学系统的像质检测装置、方法、设备以及介质 |
申请日: | 2022-10-21 | 申请/专利权人 | 长春理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 吉林省长春市卫星路7089号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01M11/02搜分类 光学仪器 仪器仪表 检测 光学系统 以及搜索 |
公开/公告日: | 2022-12-27 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN115356089B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |