咨询电话:13280638997
传真:0533-3110363
邮箱:kefu@shizifang.com
摘 要:本发明提供了一种半导体激光器光源体最佳温度检测方法,其特征在于包括以下步骤:中央控制器检测不同温度下光源体的光强信号,获得光源体温度与光强的对应曲线;在光源体温度与光强的对应曲线的拐点处温度值为中间值取多个指定温度;中央控制器控制光源体达到某一个指定温度时发送纠偏电压,由此获得每一个指定温度对应有各自的纠偏电压和光检电压的对应曲线;计算每个纠偏电压和光检电压的对应曲线中光检电压为最大值和最小值的两点之间的斜率;选取最大斜率对应的指定温度最为光源体的控温温度。本发明的目的就是针对现有技术的缺陷,提供一种半导体激光器光源体最佳温度检测方法,有效获得光源体最佳工作状态。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201611005349.X | 专利名称: | 半导体激光器光源体最佳温度检测方法 |
申请日: | 2016-11-15 | 申请/专利权人 | 江汉大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 湖北省武汉市沌口经济技术开发区江汉大学科研处 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01M11/00搜分类 半导体 检测搜索 |
公开/公告日: | 2019-06-07 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN106370395B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |