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摘 要:本发明提供了一种基于SR PUF的可靠性自检和可靠响应去偏方法,其特征在于:包括可靠性标志生成部分和可靠响应去偏部分,所述可靠性标志生成部分包括控制模块、基于PDL的SR Latch PUF模块和可靠性标志产生模块,可靠响应去偏方法分为响应注册阶段和响应恢复阶段,对可靠响应进行去偏处理。本发明方法可以在芯片出厂时或者使用过程进行实时动态自检,准确性高且方式灵活,不需要出厂时改变环境温度进行极限测试,也可以实时检测出老化或其他原因所引起的不可靠响应。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202210163141.X | 专利名称: | 一种基于SR PUF的可靠性自检和可靠响应去偏方法 |
申请日: | 2022-02-22 | 申请/专利权人 | 湖北工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 湖北省武汉市洪山区南李路28号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | H04L9/32搜分类 R P F搜索 |
公开/公告日: | 2023-05-09 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN114679277B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |