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摘 要:本发明涉及光学加工与测量技术领域,具体涉及一种大口径轴对称非球面测试方法及装置。其实现大口径非球面的精确测量,可将探针式接触测量设备的测量量程增大80%,实现大口径光学表面的检测测量。本发明采用探针式轮廓仪进行表面轮廓测量时,测针在测量杆的带动下沿非球面表面做横向运动,随零件表面轮廓的形状进行纵向扫描,从而改变了测量光路与参考光路之间的光程差,使干涉条纹发生移动,对测量结果进行分析,得到非球面的测量偏差数据,实现了大口径零件的检测和分析。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201711116481.2 | 专利名称: | 一种大口径轴对称非球面测试方法及装置 |
申请日: | 2017-11-13 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B21/20搜分类 球搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
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日期 | 法律信息 | 备注 |