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摘 要:本发明公开了一种多层膜厚度及光学特性检测方法,包括:S1,依序在衬底上沉积薄膜以形成多层膜,该多层膜的薄膜分类金刚石薄膜和金刚石薄膜;S2,测量多层膜的椭偏光谱;S3,判断薄膜是金刚石薄膜或类金刚石薄膜,如为金刚石薄膜则执行S41,如为类金刚石薄膜则执行S42;S41,采用Cauchy模型计算以获全波段的薄膜光学常数和薄膜厚度;S42,选择一段薄膜的透明区,采用Cauchy模型计算以获该波段范围的薄膜光学常数和厚度;S5,在类金刚石薄膜的吸收光谱区添加介电常数振子模型,根据椭偏光谱调整振子的幅度和宽度;S6,利用评价函数MSE评判实验值和拟合值之间的差距,以此确定多层膜的结构以及每一层薄膜的光学常数和薄膜厚度,光学常数包括折射率和消光系数。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202011296374.4 | 专利名称: | 一种多层膜厚度及光学特性检测方法 |
申请日: | 2020-11-18 | 申请/专利权人 | 华侨大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 福建省泉州市丰泽区城东城华北路269号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/06搜分类 光学仪器 仪器仪表 检测搜索 |
公开/公告日: | 2022-11-01 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN112361972B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2022/11/01 | 授权 | |
2021/03/05 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01B 11/06 专利申请号: 202011296374.4 申请日: 2020.11.18 |
2021/02/12 | 公开 |