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摘 要:本发明公开的电容DAC多列共用SAR/SS列并行ADC及应用,将A/D转换过程分为粗量化阶段和细量化阶段,粗量化采用SAR模式而细量化采用SS模式,其中SAR过程为多列共用,而SS过程为所有列共用,这样SAR中的电容阵列就可以摆脱单列宽的限制,实现更分辨率的同时提高转换速率。实现数字相关双采样是将低位量化用的SS复用于复位信号的量化,积分信号用SAR/SS整体进行量化,并将复位信号量化过程中的计数器与积分信号量化中低位精细量化中的计数器复用,直接得到数字相关双采样。本发明提出在小列宽下实现SAR/SS ADC,低位SS结构用于复位信号量化直接完成数字相关双采样,无需额外电路和处理时间。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202210045305.9 | 专利名称: | 电容DAC多列共用SAR/SS列并行ADC及应用 |
申请日: | 2022-01-14 | 申请/专利权人 | 西安理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 陕西省西安市碑林区金花南路5号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | H04N25/76搜分类 C R 港口搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2023/07/25 | 授权 | |
2022/06/21 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): H04N 5/378 专利申请号: 202210045305.9 申请日: 2022.01.14 |
2022/06/03 | 公开 |