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摘 要:本发明公开了一种无步进装置的双能X射线相衬成像系统及其实现方法,该系统沿光路依次包括双能阵列X射线源、样品、相位光栅、双能分析光栅、X射线探测器。其中:双能阵列X射线源调节管电压发出不同能量的X射线,同时把X射线变成一列列单独相干但相互之间不相干的光;相位光栅把入射光分离成不同的衍射级次,在双能分析光栅处形成周期性干涉条纹,与双能分析光栅形成莫尔条纹提取相位信息;X射线探测器记录莫尔条纹图像。本发明提供的双能X射线相衬成像系统通过调节X射线的能量,利用双能分析光栅对不同能量X射线的转化,在成像中不需要移动光栅,减少了成像的步骤,降低了对机械精度的要求。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201610804563.5 | 专利名称: | 一种无步进装置的双能X射线相衬成像系统及其实现方法 |
申请日: | 2016-09-05 | 申请/专利权人 | 天津工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 天津市西青区宾水西道399号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N23/04搜分类 射线搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |